NMX-I-116-NYCE-2007 DISPOSITIVOS SEMICONDUCTORES-CRITERIOS DE ACEPTACION Y PRUEBAS ELECTRICAS, MECANICAS Y CLIMATOLOGICAS (CANCELA A LA NMX-I-116-NYCE-2002).

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CÓDIGO VIGENTE Y TÍTULO

NMX-I-116-NYCE-2007 DISPOSITIVOS SEMICONDUCTORES-CRITERIOS DE ACEPTACION Y PRUEBAS ELECTRICAS, MECANICAS Y CLIMATOLOGICAS (CANCELA A LA NMX-I-116-NYCE-2002).

OBJETIVO Y CAMPO DE APLICACIÓN

Esta Norma Mexicana establece los métodos de prueba que deben aplicarse a los dispositivos semiconductores, dejando el establecimiento de las especificaciones particulares a la facultad del fabricante o el mutuo acuerdo entre fabricante y consumidor. Esta norma se aplica a los dispositivos semiconductores discretos tales como, diodos, rectificadores, tiristores, transistores y similares, manufacturados a base de germanio o silicio y otros elementos semiconductores para bajas y altas frecuencias y disipaciones bajas, medias y altas y también son aplicable a circuitos integrados.

CONCORDANCIA CON NORMAS INTERNACIONALES

Esta norma no concuerda con ninguna Norma Internacional por no existir referencia al momento de su elaboración.

PRECIO

$1,222.00

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